日本SoftWorks 便攜式AFM原子力顯微鏡
便攜式AFM原子力顯微鏡是日本SoftWorks株式會社推出的小型化納米表征設備。傳統原子力顯微鏡設備體積笨重，必須安置在專用防震實驗臺，樣品需要搬運到儀器位置進行觀測，無法滿足產線樣品、大型工件現場檢測的需求。這款便攜式AFM針對該痛點進行優化，在保留納米級別掃描分析能力的前提下，縮小整機體積，實現設備可移動，儀器可以移動到被測樣品處開展掃描工作，不用拆卸切割大型試樣。
設備基于原子力檢測原理，依靠精密微懸臂探針掃描樣品表面，捕捉樣品表面原子間作用力，解析出樣品納米尺度的三維表面形貌，能夠獲取表面輪廓、粗糙度、微小凹凸缺陷等關鍵信息。可適配金屬、半導體硅片、功能薄膜、高分子材料、陶瓷等多種固體樣品，多數樣品不需要復雜制樣處理。設備搭配專用控制與圖像分析軟件，完成掃描成像之后，可直接對圖像數據進行測算、標注，導出圖片與測量數據，便于科研論文、檢測報告編制。既適合高校、企業研發實驗室做材料微觀研究，也可用于工業現場抽樣檢測，對工藝產品表面質量進行快速評估，為材料開發、工藝優化提供可靠的納米級實測數據支撐。
日本 SoftWorks（ソフトワークス株式會社）便攜式 AFM 原子力顯微鏡 技術參數
| 產地品牌型號 | 日本 SoftWorks（ソフトワークス株式會社）便攜式AFM原子力顯微鏡 |
| 設備類別 | 便攜式原子力顯微鏡（AFM） |
| 工作原理 | 微懸臂探針掃描，原子力檢測原理 |
| 檢測項目 | 納米級表面形貌、三維輪廓、表面粗糙度分析 |
| 適用樣品 | 金屬、半導體、薄膜、高分子、陶瓷各類固體試樣 |
| 結構特性 | 便攜小型機身，擺脫大型防震臺束縛，支持現場檢測 |
| 設備配置 | AFM主機、掃描探針、控制單元、圖像分析軟件 |
| 適用場景 | 材料科研、半導體工藝、薄膜質檢、產線現場抽樣觀測 |
日本 SoftWorks（ソフトワークス株式會社）便攜式 AFM 原子力顯微鏡 產品核心優勢
便攜式小型機身，可移動作業，不用搬運樣品，支持現場微觀檢測；
具備納米級解析能力，輸出三維形貌圖像，分析粗糙度與表面微觀缺陷；
樣品制樣簡單，多數固體樣品無需復雜預處理，減少前期實驗工作量；
配套分析軟件，成像、測量、數據導出一體化，方便報告整理輸出；
日本SoftWorks原裝儀器，兼顧實驗室研發與工業產線抽檢雙重使用場景。
主要應用領域
新材料研發微觀形貌觀測；半導體晶圓芯片表面檢測；薄膜表面粗糙度測試；陶瓷金屬試樣微觀分析；工業產線現場抽樣微觀檢測。
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